以下是針對超微量分光光度計常見故障的系統(tǒng)性排查方案，結(jié)合實際案例經(jīng)驗與技術(shù)原理展開分析：

　　一、無顯示/無法啟動

　　1. 電源系統(tǒng)故障

　　表現(xiàn)：按下電源鍵后屏幕無反應(yīng)，指示燈不亮。

　　排查步驟：

　　- 檢查電源線是否牢固連接至設(shè)備及插座，嘗試更換插座測試；

　　- 打開機(jī)箱側(cè)板，觀察內(nèi)部保險絲是否熔斷(常見規(guī)格為T2A/250V)，更換同型號保險絲；

　　- 若設(shè)備配有鋰電池，嘗試移除電池后直接接電源適配器啟動。

　　2. 主板供電異常

　　表現(xiàn)：電源指示燈亮但屏幕黑屏。

　　排查步驟：

　　- 檢查主板與顯示屏排線是否松動，重新插拔連接；

　　- 輕觸復(fù)位按鈕(如有)，重置主板電路；

　　- 聯(lián)系工程師檢測主板電容是否鼓包或燒蝕。

　　二、讀數(shù)異常(偏高/偏低/波動大)

　　1. 光源系統(tǒng)故障

　　典型現(xiàn)象：吸光度普遍偏高且噪聲大。

　　排查步驟：

　　- 觀察氘燈/鎢燈是否正常點亮(可見微弱藍(lán)紫色或橙紅色光斑)；

　　- 若燈光微弱或閃爍，更換老化燈源(氘燈壽命約2000小時，鎢燈約3000小時)；

　　- 清理光源散熱風(fēng)扇濾網(wǎng)，防止灰塵堵塞導(dǎo)致過熱保護(hù)。

　　2. 比色皿污染或錯位

　　典型現(xiàn)象：空白樣讀數(shù)>1.0ABS。

　　排查步驟：

　　- 使用專用擦鏡紙蘸取無水乙醇單向擦拭比色皿上下表面，禁用粗糙紙巾；

　　- 確保比色皿插入檢測通道，無傾斜或位移(微升級別偏移會導(dǎo)致顯著誤差)；

　　- 更換新比色皿測試，排除器皿本底差異。

　　3. 檢測器性能下降

　　典型現(xiàn)象：信號強(qiáng)度持續(xù)走低，重復(fù)性變差。

　　排查步驟：

　　- 進(jìn)入系統(tǒng)自檢模式，查看檢測器電壓信號是否穩(wěn)定；

　　- 執(zhí)行暗電流校正(關(guān)閉光源蓋)，若暗電流值>500數(shù)字計數(shù)，需更換檢測器模塊；

　　- 檢查檢測器散熱片是否積灰，影響光電轉(zhuǎn)換效率。

　　三、基線漂移或校準(zhǔn)失敗

　　1. 波長校準(zhǔn)偏差

　　表現(xiàn)：標(biāo)準(zhǔn)濾光片實測峰值與理論值偏差>2nm。

　　排查步驟：

　　- 啟用自動校準(zhǔn)功能，使用內(nèi)置鈥玻璃或釹濾光片進(jìn)行波長校正；

　　- 手動微調(diào)準(zhǔn)直鏡螺絲(需專業(yè)人員操作)，恢復(fù)光路準(zhǔn)直性；

　　- 檢查單色儀傳動皮帶是否松弛，導(dǎo)致波長掃描滯后。

　　2. 環(huán)境溫度劇烈變化

　　表現(xiàn)：連續(xù)測量時基線緩慢上揚(yáng)。

　　排查步驟：

　　- 將設(shè)備置于恒溫環(huán)境(建議25±2℃)，預(yù)熱30分鐘后再測量；

　　- 避免陽光直射或空調(diào)直吹，防止光學(xué)元件熱變形；

　　- 長時間未使用時，先空載運行1小時穩(wěn)定系統(tǒng)溫度。

　　四、軟件通訊故障

　　1. 電腦無法識別設(shè)備

　　表現(xiàn)：驅(qū)動程序安裝失敗或設(shè)備管理器顯示黃色感嘆號。

　　排查步驟：

　　- 更換USB數(shù)據(jù)線(推薦使用原裝屏蔽線)，嘗試不同USB端口；

　　- 重新安裝最新版驅(qū)動程序，關(guān)閉殺毒軟件防火墻臨時權(quán)限；

　　- 檢查設(shè)備固件版本，通過下載升級包進(jìn)行刷機(jī)。

　　2. 軟件卡頓或崩潰

　　表現(xiàn)：光譜掃描中途死機(jī)或數(shù)據(jù)丟失。

　　排查步驟：

　　- 關(guān)閉后臺占用內(nèi)存的程序(如瀏覽器、視頻軟件)；

　　- 增加虛擬內(nèi)存容量(右鍵計算機(jī)→屬性→高級系統(tǒng)設(shè)置→性能設(shè)置)；

　　- 重裝軟件并選擇“自定義安裝”，取消不必要的插件加載。

　　五、特殊樣本導(dǎo)致的假性故障

　　高濃度樣本誤區(qū)：超微量模式下遵循比爾定律線性范圍極窄(通常<0.1ABS)，若吸光度過高會導(dǎo)致非線性偏離。

　　解決方案：稀釋樣本至合適濃度，或切換至常規(guī)比色皿模式測量。

　　氣泡干擾：微量樣品易產(chǎn)生氣泡，造成散射光異常。

　　解決方案：用移液槍緩慢注入樣本，靜置片刻待氣泡逸出后再測量。